Das WITec alpha 300A ist ein hochauflösendes, kombiniertes Rasterkraftmikroskop-Raman-System zur zerstörungsfreien Untersuchung von Nanostrukturen. Das konfokale Ramansystem erlaubt spektroskopische Messungen an Molekülen oder Festkörpern mit höchster spektraler und lateraler Auflösung, während das integrierte Rasterkraftmodul (AFM) zur topographischen Untersuchung von Oberflächen mit nanometer-genauer Präzision dient. Durch die Kombination beider Techniken ermöglicht das WITec alpha 300A auch korrelierte Messungen von AFM und Raman und ist somit ein universell einsetzbares Gerät in der Nanoanalytik.